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汎銓科技專精於半導體尖端製程技術的研發分析服務,為IC Design House、FAB、半導體設備商及LED產業的長期夥伴,配合客戶需求,提供各種材料分析及IC電路修補,受到高度信賴。
汎銓建置有高解析度FE-SEM、FIB、TEM等材料結構分析儀器,以及OBIRCH、InGaAs等電性故障分析儀器,並有IC設計電路修補儀器等先進設備,能協助客戶找出缺陷和故障成因,加速產品商業化。
材料分析部門主管周學良表示,隨著半導體製程演進,台灣及國際半導體廠已邁入20/22nm 及14/16nm生產及研發的世代,汎銓不斷投入設備及研發來提升分析技術能力,符合先進製程需求。汎銓更嘗試向最高難度的技術挑戰,以市面上最先進的Intel 22nm CPU (Ivy bridge CUP)進行TEM 分析,結果證明,該公司的TEM 分析能力不但與世界級實驗室同一水準,時效上的領先更獲得客戶認同。
一般TEM試片的厚度約100nm,但14~22nm製程則需具備超薄TEM 試片厚度的製備能力,汎銓早已具備此分析能力,能滿足16~22nm 先進製程的需求。而隨著製程微縮至14~22nm,一般TEM影像已無法滿足分析需求,必需藉由成份(元素)的分析資訊輔助觀察,該公司特別購置最先進的Windowless EDS 偵測器,強化元素分佈(element mapping)分析的能力。
清華大學陳福榮教授為電子顯微鏡研究領域的專家,今年年初汎銓敦請他擔任榮譽顧問。陳福榮在高顯像能電子顯微鏡、積體電路微結構分析、固體界面原子結構偏折及鍵結、原子分辨率斷層攝影學、先進電子光學儀器設計研發、軟物質電子顯微學(相位板/濕胞顯微術)、電致色變智慧節能窗、太陽能電池元件製程等方面,具有突出的成就和顯著貢獻,因而享有聲譽。
汎銓表示,在陳福榮教授的協助下,將進一步精進公司在電子顯微鏡、積體電路微結構分析、固體界面原子結構偏折及鍵結等材料分析領域的技術能力,提升服務客戶的能量與深度。
維持人員的穩定性,累積經驗與技術傳承,為汎銓重要的策略與競爭優勢。汎銓很自豪於員工年薪一直高於同業,離職率低於同業,深信並澈底實踐:維持人員穩定性才能在專業度領先同業,也是讓客戶滿意的不二法門。
汎銓科技(MSS)以奈米碳管結構做為LOGO,期盼所有成員就像奈米碳管中的碳原子,緊密結合、強韌延展,持續強化專業及熱忱特質,成為客戶研發分析的長期夥伴。汎銓參加2013國際半導體展參展,攤位號碼404,電話(03)666-3298,http://www.msscorps.com/。
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